校準超聲波測厚儀的標準程序是使用經(jīng)批準的校準塊（也稱為超聲波校準標準）來檢查壓力表的線性度;塊的尺寸范圍從1.5毫米到50毫米。典型的程序包括使用不同的mm塊進行4-5個單獨的測試，以確保一致性。將探頭放置在校準塊上的指定區(qū)域，一旦聲音穿透到塊的背面，就會從中發(fā)射和接收聲波;然后重復此測試，從較薄的塊開始，并在每次連續(xù)測試后向上移動到較厚的塊。

凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量，如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類。可以對各種板材和加工零件作精確測量，另一重要方面是可以對生產(chǎn)設備中各種管道和壓力容器進行監(jiān)測，監(jiān)測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度。超聲波測厚儀廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。

哪些原因影響智能高精度測厚儀的精度

(1) 覆蓋層厚度大于25μm時，其誤差與覆蓋層厚度近似成正比。

(2) 基體金屬的電導率對測量有影響，它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關。

(3) 任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,，只有大于這個厚度，測量才不會受基體金屬厚度的影響。

(4) 渦流測厚儀對試樣測定存在邊緣效應,，即對靠近試樣樣邊緣或內(nèi)轉角處的測量是不可靠的。

不止是鋼結構，目前鋁材企業(yè)的開展進入一個新階段，涂層測厚儀關于鋁型材行業(yè)也有不可估量的價值，關鍵針對鋁型材外表面氧化膜的檢測，氧化膜關于鋁型材的維護至關重要，這也就象征著涂層測厚儀不可或缺，經(jīng)過準確測量不只可以及時獲取產(chǎn)質量參數(shù)，而且可以節(jié)省材質。

光學干涉測厚儀，典型應用于光學膜涂布、太陽能晶元、超薄玻璃、膠帶、Mylar膜、OCA光學膠、光阻等測量，測量原理是利用紅外光穿透物質時的吸收、反射、散射等效應實現(xiàn)無損非接觸式測量薄膜類材料的厚度。