測厚儀主要用來測量材料及物體厚度的儀表，在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度。測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

超聲波測厚儀主要有主機和探頭兩部分組成。主機電路包括發(fā)射電路、接收電路、計數(shù)顯示電路三部分，由發(fā)射電路產(chǎn)生的高壓沖擊波激勵探頭，產(chǎn)生超聲發(fā)射脈沖波，脈沖波經(jīng)介質(zhì)介面反射后被接收電路接收，通過單片機計數(shù)處理后，經(jīng)液晶顯示器顯示厚度數(shù)值，超聲波測厚儀它主要根據(jù)聲波在試樣中的傳播速度乘以通過試樣的時間的一半而得到試樣的厚度。下面介紹智能高精度測厚儀種類。

1、激光測厚儀

典型應用于鋰電池正、負極涂布、鋰電池正負極輥壓的厚度測量，測量原理是利用激光三角法測距，測量薄膜材料的厚度。

2、離線式激光測厚儀

典型應用于鋰電池極片涂布削薄區(qū)離線測量、軟包封印邊厚度測量，通過利用激光三角法測距原理測量材料的厚度。

3、紅外測厚儀

典型應用于水含量、涂布量、薄膜和熱熔膠的厚度測量，測量原理是利用紅外光穿透物質(zhì)時的吸收、反射、散射等效應實現(xiàn)無損非接觸式測量薄膜類材料的厚度。

4、光學干涉測厚儀

典型應用于光學膜涂布、太陽能晶元、超薄玻璃、膠帶、Mylar膜、OCA光學膠、光阻等測量，測量原理是利用紅外光穿透物質(zhì)時的吸收、反射、散射等效應實現(xiàn)無損非接觸式測量薄膜類材料的厚度。

工件表面粗糙度過大，造成探頭與接觸面耦合效果差，反射回波低，甚至無法接收到回波信號。對于表面銹蝕，耦合效果極差的在役設備、管道等可通過砂、磨、挫等方法對表面進行處理，降低粗糙度，同時也可以將氧化物及油漆層去掉，露出金屬光澤，使探頭與被檢物通過耦合劑能達到很好的耦合效果。